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    立儀科技
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    • HM5-160全自動檢測系統
    • HM5-160全自動檢測設備膜厚儀

    HM5-160全自動檢測系統

    1、高速度、高精度測量系統。 2、最大160mm*160mm范圍自動測量。 3、重復測量精度≦0.5μm。 4、適用高反光、高透光材料。 5、數據重復測量的一致性。 6、測量膜厚、線寬、平面度等。

    產品詳情

    Xbar-R均值極差控制圖、分布概率直方圖、平均值、標準差、CPK等常用統 計參數。 

    按被測產品獨立統計,可追溯性品質管理,可記錄產品條碼或編號,由此 追蹤到該編號產品當時的印刷、漿料、鋼網、刮刀等幾乎所有制程工藝參 數。規格參數可自主設置。 

    制程優化分類統計,可根據不同印刷參數比如刮刀壓力、速度、脫網速度、 清潔頻率等,不同漿料,不同鋼網,不同刮刀進行條件分類統計,且條件可以 多選??煞奖愕馗鶕煌慕y計結果尋找最穩定的制程參數配置。



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